Multiskalensimulation des Ladungstransports in Silizium-Nanodraht-Transistoren: Evaluation der Grenzen des Simulationsmodells: Ist die Bestimmung von physikalischen Parameten aus g...

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Authors and Corporations:	Eckert, Hagen (Author)
Title:	Multiskalensimulation des Ladungstransports in Silizium-Nanodraht-Transistoren: Evaluation der Grenzen des Simulationsmodells: Ist die Bestimmung von physikalischen Parameten aus gemessenem Strom-Spannungs-Kennlinien möglich?/ Hagen Eckert
Dissertation Note:	Dresden, Techn. Univ., Fakultät Maschinenwesen, Diplomarbeit, 2012
Type of Resource:	E-Book Thesis
Language:	German
published:	2012
Subjects:	Nanodraht Feldeffekttransistor Mehrskalenanalyse Computersimulation Finite-Elemente-Methode Tunneleffekt Halbleiter Hochschulschrift
Source:	Verbunddaten SWB Lizenzfreie Online-Ressourcen

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