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Eckert, H. (2012). Multiskalensimulation des Ladungstransports in Silizium-Nanodraht-Transistoren: Evaluation der Grenzen des Simulationsmodells: Ist die Bestimmung von physikalischen Parameten aus gemessenem Strom-Spannungs-Kennlinien möglich?

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Multiskalensimulation des Ladungstransports in Silizium-Nanodraht-Transistoren : Evaluation der Grenzen des Simulationsmodells: Ist die Bestimmung von physikalischen Parameten aus gemessenem Strom-Spannungs-Kennlinien möglich? / Hagen Eckert . — 2012. — Online-Ressource

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Eckert, Hagen. Multiskalensimulation Des Ladungstransports in Silizium-Nanodraht-Transistoren: Evaluation Der Grenzen Des Simulationsmodells: Ist Die Bestimmung Von Physikalischen Parameten Aus Gemessenem Strom-Spannungs-Kennlinien Möglich?2012.

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