|
|
|
|
LEADER |
04206cam a2201009 4500 |
001 |
0-1651875111 |
003 |
DE-627 |
005 |
20220616135225.0 |
007 |
cr uuu---uuuuu |
008 |
121115s2012 xx |||||om 00| ||ger c |
024 |
7 |
|
|a urn:nbn:de:bsz:14-qucosa-98748
|2 urn
|
035 |
|
|
|a (DE-627)1651875111
|
035 |
|
|
|a (DE-576)375334408
|
035 |
|
|
|a (DE-599)BSZ375334408
|
035 |
|
|
|a (OCoLC)820496553
|
040 |
|
|
|a DE-627
|b ger
|c DE-627
|e rakwb
|
041 |
|
|
|a ger
|
082 |
0 |
|
|a 620
|
084 |
|
|
|a ZN 3700
|2 rvk
|0 (DE-625)rvk/157333:
|
100 |
1 |
|
|a Eckert, Hagen
|4 aut
|
245 |
1 |
0 |
|a Multiskalensimulation des Ladungstransports in Silizium-Nanodraht-Transistoren
|b Evaluation der Grenzen des Simulationsmodells: Ist die Bestimmung von physikalischen Parameten aus gemessenem Strom-Spannungs-Kennlinien möglich?
|c Hagen Eckert
|
247 |
1 |
0 |
|a Multiscale simulations of charge transport in silicon nanowire-based transistors
|f Übers. des Hauptsacht.
|
264 |
|
1 |
|c 2012
|
300 |
|
|
|a Online-Ressource
|
336 |
|
|
|a Text
|b txt
|2 rdacontent
|
337 |
|
|
|a Computermedien
|b c
|2 rdamedia
|
338 |
|
|
|a Online-Ressource
|b cr
|2 rdacarrier
|
502 |
|
|
|a Dresden, Techn. Univ., Fakultät Maschinenwesen, Diplomarbeit, 2012
|
506 |
0 |
|
|a Open Access
|e Controlled Vocabulary for Access Rights
|q DE-14
|u http://purl.org/coar/access_right/c_abf2
|
540 |
|
|
|q DE-14
|a Urheberrechtsschutz 1.0
|2 rs
|u http://rightsstatements.org/vocab/InC/1.0/
|
583 |
1 |
|
|a Archivierung/Langzeitarchivierung gewährleistet
|2 pdager
|5 DE-14
|
650 |
0 |
7 |
|0 (DE-588)4707308-1
|0 (DE-627)356845184
|0 (DE-576)215464893
|a Nanodraht
|2 gnd
|
650 |
0 |
7 |
|0 (DE-588)4131472-4
|0 (DE-627)105694800
|0 (DE-576)209627557
|a Feldeffekttransistor
|2 gnd
|
650 |
0 |
7 |
|0 (DE-588)4416235-2
|0 (DE-627)213033003
|0 (DE-576)212218913
|a Mehrskalenanalyse
|2 gnd
|
650 |
0 |
7 |
|0 (DE-588)4148259-1
|0 (DE-627)105570354
|0 (DE-576)209763132
|a Computersimulation
|2 gnd
|
650 |
0 |
7 |
|0 (DE-588)4017233-8
|0 (DE-627)106330640
|0 (DE-576)208918914
|a Finite-Elemente-Methode
|2 gnd
|
650 |
0 |
7 |
|0 (DE-588)4136216-0
|0 (DE-627)105659185
|0 (DE-576)209667281
|a Tunneleffekt
|2 gnd
|
650 |
0 |
7 |
|0 (DE-588)4022993-2
|0 (DE-627)10630593X
|0 (DE-576)208946993
|a Halbleiter
|2 gnd
|
655 |
|
7 |
|a Hochschulschrift
|0 (DE-588)4113937-9
|0 (DE-627)105825778
|0 (DE-576)209480580
|2 gnd-content
|
751 |
|
|
|a Dresden
|0 (DE-588)4012995-0
|0 (DE-627)106345745
|0 (DE-576)20890140X
|4 uvp
|
856 |
4 |
0 |
|u http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:14-qucosa-98748
|q application/pdf
|x Resolving-System
|z kostenfrei
|3 Volltext
|
936 |
r |
v |
|a ZN 3700
|b Mikromechanik (hier auch Nanotechnologie)
|k Elektrotechnik, Elektronik, Nachrichtentechnik
|k Elektromechanik und Mikromechanik
|k Mikromechanik (hier auch Nanotechnologie)
|0 (DE-627)1271730413
|0 (DE-625)rvk/157333:
|0 (DE-576)201730413
|
951 |
|
|
|a BO
|
856 |
4 |
0 |
|u http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:14-qucosa-98748
|9 LFER
|
852 |
|
|
|a LFER
|z 2012-12-11T00:00:00Z
|
970 |
|
|
|c OD
|
971 |
|
|
|c EBOOK
|
972 |
|
|
|c EBOOK
|
973 |
|
|
|c EB
|
935 |
|
|
|a lfer
|
852 |
|
|
|a DE-14
|z 2012-11-15T08:50:13Z
|
984 |
|
|
|z Elektronischer Volltext - Zugang über WWW
|
950 |
|
|
|a Semiconductor
|
950 |
|
|
|a Festkörper
|
950 |
|
|
|a Halbleiterphysik
|
950 |
|
|
|a Halbleiterwerkstoff
|
950 |
|
|
|a FET
|
950 |
|
|
|a Transistor
|
950 |
|
|
|a Methode der finiten Elemente
|
950 |
|
|
|a Finite Elemente
|
950 |
|
|
|a FEM
|
950 |
|
|
|a Numerisches Verfahren
|
950 |
|
|
|a Finite cell method
|
950 |
|
|
|a Multiresolutionsanalyse
|
950 |
|
|
|a Multi-Skalen-Analyse
|
950 |
|
|
|a Multiskalenanalyse
|
950 |
|
|
|a Multiskalenmethode
|
950 |
|
|
|a Multiskalenzerlegung
|
950 |
|
|
|a Mehrfachauflösung
|
950 |
|
|
|a Tunneln
|
950 |
|
|
|a Quantum tunneling
|
950 |
|
|
|a Nano wire
|
950 |
|
|
|a Nanostab
|
950 |
|
|
|a Nanorod
|
950 |
|
|
|a Draht
|
950 |
|
|
|a Nanostruktur
|
950 |
|
|
|a Quantendraht
|
950 |
|
|
|a Simulation
|
950 |
|
|
|a Datenverarbeitung
|
950 |
|
|
|a Computer
|
950 |
|
|
|a Simulationstechnik
|
950 |
|
|
|a Systemsimulation
|
950 |
|
|
|a Digitale Simulation
|
950 |
|
|
|a Computermodell
|
950 |
|
|
|a Rechnersimulation
|
950 |
|
|
|a Компьютерная симуляция
|
980 |
|
|
|a 1651875111
|b 0
|k 1651875111
|o 375334408
|c lfer
|
SOLR
_version_ |
1782572052243283968 |
access_facet |
Electronic Resources |
access_state_str |
Open Access |
author |
Eckert, Hagen |
author_facet |
Eckert, Hagen |
author_role |
aut |
author_sort |
Eckert, Hagen |
author_variant |
h e he |
callnumber-sort |
|
collection |
lfer |
ctrlnum |
(DE-627)1651875111, (DE-576)375334408, (DE-599)BSZ375334408, (OCoLC)820496553 |
dewey-full |
620 |
dewey-hundreds |
600 - Technology |
dewey-ones |
620 - Engineering & allied operations |
dewey-raw |
620 |
dewey-search |
620 |
dewey-sort |
3620 |
dewey-tens |
620 - Engineering |
facet_avail |
Online, Free |
finc_class_facet |
Technik |
finc_id_str |
0012719586 |
fincclass_txtF_mv |
engineering-electrical, technology, engineering-process |
format |
eBook, Thesis |
format_access_txtF_mv |
Thesis |
format_de105 |
Ebook |
format_de14 |
Book, E-Book |
format_de15 |
Book, E-Book |
format_del152 |
Buch |
format_detail_txtF_mv |
text-online-monograph-independent-thesis |
format_dezi4 |
e-Book |
format_finc |
Book, E-Book, Thesis |
format_legacy |
ElectronicBook |
format_legacy_nrw |
Book, E-Book |
format_nrw |
Book, E-Book |
format_strict_txtF_mv |
E-Thesis |
genre |
Hochschulschrift (DE-588)4113937-9 (DE-627)105825778 (DE-576)209480580 gnd-content |
genre_facet |
Hochschulschrift |
geogr_code |
not assigned |
geogr_code_person |
not assigned |
id |
0-1651875111 |
illustrated |
Not Illustrated |
imprint |
2012 |
imprint_str_mv |
2012 |
institution |
DE-D117, DE-105, LFER, DE-Ch1, DE-15, DE-14, DE-L242, DE-Zwi2 |
is_hierarchy_id |
|
is_hierarchy_title |
|
kxp_id_str |
1651875111 |
language |
German |
last_indexed |
2023-11-14T20:19:43.107Z |
license_str_mv |
http://rightsstatements.org/page/InC |
local_heading_facet_dezwi2 |
Nanodraht, Feldeffekttransistor, Mehrskalenanalyse, Computersimulation, Finite-Elemente-Methode, Tunneleffekt, Halbleiter |
marc024a_ct_mv |
urn:nbn:de:bsz:14-qucosa-98748 |
match_str |
eckert2012multiskalensimulationdesladungstransportsinsiliziumnanodrahttransistorenevaluationdergrenzendessimulationsmodellsistdiebestimmungvonphysikalischenparametenausgemessenemstromspannungskennlinienmoglich |
mega_collection |
Verbunddaten SWB, Lizenzfreie Online-Ressourcen |
misc_de105 |
EBOOK |
oclc_num |
820496553 |
physical |
Online-Ressource |
publishDate |
2012 |
publishDateSort |
2012 |
publishPlace |
|
publisher |
|
record_format |
marcfinc |
record_id |
375334408 |
recordtype |
marcfinc |
rvk_facet |
ZN 3700 |
rvk_label |
Elektrotechnik, Elektronik, Nachrichtentechnik, Elektromechanik und Mikromechanik, Mikromechanik (hier auch Nanotechnologie) |
rvk_path |
ZN, ZN 3700, ZN 3600 - ZN 3750, ZG - ZS |
rvk_path_str_mv |
ZN, ZN 3700, ZN 3600 - ZN 3750, ZG - ZS |
source_id |
0 |
spelling |
Eckert, Hagen aut, Multiskalensimulation des Ladungstransports in Silizium-Nanodraht-Transistoren Evaluation der Grenzen des Simulationsmodells: Ist die Bestimmung von physikalischen Parameten aus gemessenem Strom-Spannungs-Kennlinien möglich? Hagen Eckert, Multiscale simulations of charge transport in silicon nanowire-based transistors Übers. des Hauptsacht., 2012, Online-Ressource, Text txt rdacontent, Computermedien c rdamedia, Online-Ressource cr rdacarrier, Dresden, Techn. Univ., Fakultät Maschinenwesen, Diplomarbeit, 2012, Open Access Controlled Vocabulary for Access Rights DE-14 http://purl.org/coar/access_right/c_abf2, DE-14 Urheberrechtsschutz 1.0 rs http://rightsstatements.org/vocab/InC/1.0/, Archivierung/Langzeitarchivierung gewährleistet pdager DE-14, (DE-588)4707308-1 (DE-627)356845184 (DE-576)215464893 Nanodraht gnd, (DE-588)4131472-4 (DE-627)105694800 (DE-576)209627557 Feldeffekttransistor gnd, (DE-588)4416235-2 (DE-627)213033003 (DE-576)212218913 Mehrskalenanalyse gnd, (DE-588)4148259-1 (DE-627)105570354 (DE-576)209763132 Computersimulation gnd, (DE-588)4017233-8 (DE-627)106330640 (DE-576)208918914 Finite-Elemente-Methode gnd, (DE-588)4136216-0 (DE-627)105659185 (DE-576)209667281 Tunneleffekt gnd, (DE-588)4022993-2 (DE-627)10630593X (DE-576)208946993 Halbleiter gnd, Hochschulschrift (DE-588)4113937-9 (DE-627)105825778 (DE-576)209480580 gnd-content, Dresden (DE-588)4012995-0 (DE-627)106345745 (DE-576)20890140X uvp, http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:14-qucosa-98748 application/pdf Resolving-System kostenfrei Volltext, http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:14-qucosa-98748 LFER, LFER 2012-12-11T00:00:00Z, DE-14 2012-11-15T08:50:13Z |
spellingShingle |
Eckert, Hagen, Multiskalensimulation des Ladungstransports in Silizium-Nanodraht-Transistoren: Evaluation der Grenzen des Simulationsmodells: Ist die Bestimmung von physikalischen Parameten aus gemessenem Strom-Spannungs-Kennlinien möglich?, Nanodraht, Feldeffekttransistor, Mehrskalenanalyse, Computersimulation, Finite-Elemente-Methode, Tunneleffekt, Halbleiter, Hochschulschrift |
swb_id_str |
375334408 |
title |
Multiskalensimulation des Ladungstransports in Silizium-Nanodraht-Transistoren: Evaluation der Grenzen des Simulationsmodells: Ist die Bestimmung von physikalischen Parameten aus gemessenem Strom-Spannungs-Kennlinien möglich? |
title_auth |
Multiskalensimulation des Ladungstransports in Silizium-Nanodraht-Transistoren Evaluation der Grenzen des Simulationsmodells: Ist die Bestimmung von physikalischen Parameten aus gemessenem Strom-Spannungs-Kennlinien möglich? |
title_full |
Multiskalensimulation des Ladungstransports in Silizium-Nanodraht-Transistoren Evaluation der Grenzen des Simulationsmodells: Ist die Bestimmung von physikalischen Parameten aus gemessenem Strom-Spannungs-Kennlinien möglich? Hagen Eckert |
title_fullStr |
Multiskalensimulation des Ladungstransports in Silizium-Nanodraht-Transistoren Evaluation der Grenzen des Simulationsmodells: Ist die Bestimmung von physikalischen Parameten aus gemessenem Strom-Spannungs-Kennlinien möglich? Hagen Eckert |
title_full_unstemmed |
Multiskalensimulation des Ladungstransports in Silizium-Nanodraht-Transistoren Evaluation der Grenzen des Simulationsmodells: Ist die Bestimmung von physikalischen Parameten aus gemessenem Strom-Spannungs-Kennlinien möglich? Hagen Eckert |
title_old |
Multiscale simulations of charge transport in silicon nanowire-based transistors |
title_short |
Multiskalensimulation des Ladungstransports in Silizium-Nanodraht-Transistoren |
title_sort |
multiskalensimulation des ladungstransports in silizium nanodraht transistoren evaluation der grenzen des simulationsmodells ist die bestimmung von physikalischen parameten aus gemessenem strom spannungs kennlinien moglich |
title_sub |
Evaluation der Grenzen des Simulationsmodells: Ist die Bestimmung von physikalischen Parameten aus gemessenem Strom-Spannungs-Kennlinien möglich? |
topic |
Nanodraht, Feldeffekttransistor, Mehrskalenanalyse, Computersimulation, Finite-Elemente-Methode, Tunneleffekt, Halbleiter, Hochschulschrift |
topic_facet |
Nanodraht, Feldeffekttransistor, Mehrskalenanalyse, Computersimulation, Finite-Elemente-Methode, Tunneleffekt, Halbleiter, Hochschulschrift |
url |
http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:14-qucosa-98748 |
urn |
urn:nbn:de:bsz:14-qucosa-98748 |