Space Charge Spectroscopy applied to Defect Studies in Ion-Implanted Zinc Oxide Thin Films

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Personen und Körperschaften:	Schmidt, Matthias, von Wenckstern, Holger, Pickenhain, Rainer, Grundmann, Marius, Brauer, Gerhard, Pearton, Stephen J.
Titel:	Space Charge Spectroscopy applied to Defect Studies in Ion-Implanted Zinc Oxide Thin Films
Hochschulschriftenvermerk:	Dissertation, Universität Leipzig, 2011
Format:	E-Book Hochschulschrift
Sprache:	Englisch
veröffentlicht:	Online-Ausg.. 2012
Schlagwörter:	Halbleiter Zinkoxid Zno Defekt Tiefe Störstelle Ionenimplantation Raumladungszonenspektroskopie Dlts Optische Dlts Odlts Elektronische Defektzustände Nickel Stickstoff Semiconductor Zinc Oxide Defects Ion-Implantation Space Charge Spectroscopy Optical Dlts Deep Defect Center Deep-Level Deep-Level Transient Spectroscopy Electronic Defect States Nitrogen Raumladungsgebiet Raumladungszone Defect Spektroskopie Kapazitätsspektroskopie Deep Level Transient Spectroscopy Kapazitätstransientenspektroskopie Hochschulschrift
Quelle:	Qucosa

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