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Transmissionselektronenmikroskopische Analysen zur Defektreduktion mittels SiNx Zwischenschichten in AlGaN Heterostrukturen
Gespeichert in:
| Personen und Körperschaften: | |
|---|---|
| Titel: | Transmissionselektronenmikroskopische Analysen zur Defektreduktion mittels SiNx Zwischenschichten in AlGaN Heterostrukturen/ Oliver Klein |
| Hochschulschriftenvermerk: | Ulm, Univ., Diss., 2012 |
| Format: | E-Book Hochschulschrift |
| Sprache: | Deutsch |
| veröffentlicht: |
2012
|
| Schlagwörter: | |
| Buch-Ausg. u.d.T.: | Klein, Oliver, 1979 - , Transmissionselektronenmikroskopische Analysen zur Defektreduktion mittels SiNx Zwischenschichten in AlGaN Heterostrukturen, 2011, II, 118 S. |
| Quelle: | Verbunddaten SWB Lizenzfreie Online-Ressourcen |