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A Review on Resistive Switching in High-k Dielectrics: A Nanoscale Point of View Using Conductive Atomic Force Microscope
Gespeichert in:
Zeitschriftentitel: | Materials |
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Personen und Körperschaften: | |
In: | Materials, 7, 2014, 3, S. 2155-2182 |
Format: | E-Article |
Sprache: | Englisch |
veröffentlicht: |
MDPI AG
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Schlagwörter: |