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Optimization and characterization of NiO thin films prepared via NSP technique and its P-N junction diode application
Gespeichert in:
Zeitschriftentitel: | Materials Science-Poland |
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Personen und Körperschaften: | , |
In: | Materials Science-Poland, 37, 2019, 3, S. 338-346 |
Format: | E-Article |
Sprache: | Englisch |
veröffentlicht: |
Walter de Gruyter GmbH
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Schlagwörter: |