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MICROSCOPIC AND X–RAY SPECTROSCOPIC STUDY OF NI ROD MASSIVES IN SILICON DIOXIDE MATRIX
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Zeitschriftentitel: | Izvestiya Vysshikh Uchebnykh Zavedenii. Materialy Elektronnoi Tekhniki = Materials of Electronics Engineering |
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Personen und Körperschaften: | , , , , , , , , , |
In: | Izvestiya Vysshikh Uchebnykh Zavedenii. Materialy Elektronnoi Tekhniki = Materials of Electronics Engineering, 19, 2018, 1, S. 50-58 |
Format: | E-Article |
Sprache: | Unbestimmt |
veröffentlicht: |
National University of Science and Technology MISiS
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Schlagwörter: |