Canali, C.(1986). An SEM based system for a complete characterization of latch‐up in CMOS integrated circuits. Scanning, 8(1), 20-33. doi:10.1002/sca.4950080105
MLA ZitierstilCanali, C. "An SEM Based System for a Complete Characterization of Latch‐up in CMOS Integrated Circuits". Scanning, 8.1 ( 1986 ): 20-33.
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