Zhu, Y.(2001). A novel shadow-imaging technique to measure charge distribution and lattice displacement. Journal of Electron Microscopy, 50(6), 465-471. doi:10.1093/jmicro/50.6.465
MLA ZitierstilZhu, Y. "A Novel Shadow-imaging Technique to Measure Charge Distribution and Lattice Displacement". Journal of Electron Microscopy, 50.6 ( 2001 ): 465-471.
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