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A comprehensive investigation of silicon film thickness ( T SI ) of nanoscale DG TFET for low power applications
Gespeichert in:
Zeitschriftentitel: | Advances in Natural Sciences: Nanoscience and Nanotechnology |
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Personen und Körperschaften: | , , , |
In: | Advances in Natural Sciences: Nanoscience and Nanotechnology, 7, 2016, 3, S. 035009 |
Format: | E-Article |
Sprache: | Unbestimmt |
veröffentlicht: |
IOP Publishing
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Schlagwörter: |