Direct Measurement of Polarization-Induced Fields in GaN/AlN by Nano-Beam Electron Diffraction

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Veröffentlicht in:	Scientific reports Bd. 6 (2016), Article number: 28459
Personen und Körperschaften:	Carvalho, Daniel (VerfasserIn), Müller-Caspary, Knut (VerfasserIn), Schowalter, Marco (VerfasserIn), Grieb, Tim (VerfasserIn), Mehrtens, Thorsten (VerfasserIn), Rosenauer, Andreas (VerfasserIn), Ben, Teresa (VerfasserIn), García, Rafael (VerfasserIn), Redondo-Cubero, Andrés (VerfasserIn), Lorenz, Katharina (VerfasserIn), Daudin, Bruno (VerfasserIn), Morales, Francisco M. (VerfasserIn)
Titel:	Direct Measurement of Polarization-Induced Fields in GaN/AlN by Nano-Beam Electron Diffraction/ Daniel Carvalho, Knut Müller-Caspary, Marco Schowalter, Tim Grieb, Thorsten Mehrtens, Andreas Rosenauer, Teresa Ben, Rafael García, Andrés Redondo-Cubero, Katharina Lorrenz, Bruno Daudin &Francisco M. Morales
Format:	E-Book-Kapitel
Sprache:	Englisch
veröffentlicht:	2016
Gesamtaufnahme:	: Scientific reports, Bd. 6 (2016), Article number: 28459 , volume:6
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