Vierpunktmessungen an freistehenden Nanodrähten mit einem Multispitzen-Rastertunnelmikroskop

Gespeichert in:

Personen und Körperschaften:	Zhao, Weihong (VerfasserIn), Hannappel, Thomas (AkademischeR BetreuerIn), Jacobs, Heiko O. (Sonstige), Prost, Werner (Sonstige), Technische Universität Ilmenau (Grad-verleihende Institution)
Titel:	Vierpunktmessungen an freistehenden Nanodrähten mit einem Multispitzen-Rastertunnelmikroskop/ vorgelegt von Dipl.-Ing. Weihong Zhao
Hochschulschriftenvermerk:	Dissertation, Technische Universität Ilmenau, 2017
Format:	E-Book Hochschulschrift
Sprache:	Deutsch
veröffentlicht:	Ilmenau Universitätsbibliothek 2017
Schlagwörter:	Hochschulschrift
Erscheint auch als:	Zhao, Weihong, 1983 - , Vierpunktmessungen an freistehenden Nanodrähten mit einem Multispitzen-Rastertunnelmikroskop, Ilmenau, 2017, 103 Blätter
Quelle:	Verbunddaten SWB Lizenzfreie Online-Ressourcen

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