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Eignungsnachweis von Prüfprozessen: Prüfmittelfähigkeit und Messunsicherheit im aktuellen Normenumfeld
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Authors and Corporations: | , |
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Title: | Eignungsnachweis von Prüfprozessen: Prüfmittelfähigkeit und Messunsicherheit im aktuellen Normenumfeld/ Edgar Dietrich, Alfred Schulze |
Edition: | 5., überarbeitete Auflage |
Type of Resource: | Book |
Language: | German |
published: |
München
Hanser
[2017]
© 2017 |
Erscheint auch als: | Dietrich, Edgar, 1951 - , Eignungsnachweis von Prüfprozessen, 5., überarbeitete Auflage, München : Hanser, 2017, 1 Online-Ressource (XII, 644 Seiten) |
Source: | Verbunddaten SWB |
Internet
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