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Application of a modern scanning electron microscope for materials characterization

Gespeichert in:

Personen und Körperschaften: Sun, Cheng (VerfasserIn)
Titel: Application of a modern scanning electron microscope for materials characterization/ von M.Eng. Cheng Sun
Hochschulschriftenvermerk: Dissertation, Karlsruher Institut für Technologie (KIT), 2019
Format: E-Book Hochschulschrift
Sprache: Englisch
veröffentlicht:
Karlsruhe [2019]
Schlagwörter:
Quelle: Verbunddaten SWB
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