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Feature adaptive sampling for scanning electron microscopy

Gespeichert in:

Veröffentlicht in: Scientific reports 6(2016), Seite 25350
Personen und Körperschaften: Dahmen, Tim (VerfasserIn), Engstler, Michael (VerfasserIn), Pauly, Christoph (VerfasserIn), Trampert, Patrick (VerfasserIn), Jonge, Niels de (VerfasserIn), Mücklich, Frank (VerfasserIn), Slusallek, Philipp (VerfasserIn), Leibniz-Institut für Neue Materialien (GeistigeR SchöpferIn)
Titel: Feature adaptive sampling for scanning electron microscopy/ Tim Dahmen, Michael Engstler, Christoph Pauly, Patrick Trampert, Niels de Jonge, Frank Mücklich & Philipp Slusallek
Format: E-Book-Kapitel
Sprache: Englisch
veröffentlicht:
2016
Gesamtaufnahme: : Scientific reports, 6(2016), Seite 25350
, volume:6
Quelle: Verbunddaten SWB
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