Dahmen, T. (2016). Feature adaptive sampling for scanning electron microscopy. Scientific reports, 6, .
ISBD Zitierstil"Feature adaptive sampling for scanning electron microscopy / Tim Dahmen, Michael Engstler, Christoph Pauly, Patrick Trampert, Niels de Jonge, Frank Mücklich & Philipp Slusallek" Scientific Reports .
MLA ZitierstilDahmen, Tim. "Feature Adaptive Sampling for Scanning Electron Microscopy." Scientific Reports 6 (2016).
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