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Eine Methode zur Bewertung von Anlaufrisiken in der Produktentwicklung für die Flugzeugindustrie

Gespeichert in:

Personen und Körperschaften: Elstner, Steffen (VerfasserIn), Krause, Dieter (AkademischeR BetreuerIn), Schüppstuhl, Thorsten (AkademischeR BetreuerIn), Technische Universität Hamburg-Harburg (Grad-verleihende Institution), Technische Universität Hamburg-Harburg Institut für Produktentwicklung und Konstruktionstechnik (Sonstige, Sonstige Körperschaft)
Titel: Eine Methode zur Bewertung von Anlaufrisiken in der Produktentwicklung für die Flugzeugindustrie/ von Steffen Elstner ; 1. Gutachter: Prof. Dr.-Ing. Dieter Krause, 2. Gutachter: Prof. Dr.-Ing. Thorsten Schüppstuhl
Hochschulschriftenvermerk: Dissertation, Technische Universität Hamburg-Harburg, 2017
Format: E-Book Hochschulschrift
Sprache: Deutsch
veröffentlicht:
Hamburg 2017
Gesamtaufnahme: Hamburger Schriftenreihe Produktentwicklung und Konstruktionstechnik ; 14
Schlagwörter:
Quelle: Verbunddaten SWB
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